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方塊電阻測試儀的使用特點

更新時間:2022-11-22      點擊次數(shù):538

 方塊電阻測試儀的使用特點

TD-XX-2型方塊電阻測試儀,是TD-XX型系列四探針方塊電阻 測試儀中的新一代產品, 是一種依照類似的國家標準和美國 A.S.T.M標準而設計,**門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新 型儀器。
   可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧 化膜)……等同類物質的薄層電阻。
 技術特點: 
* 測量范圍:基本量程:方塊電阻 1.00—199.99(Ω/□); 擴展量程:方塊電阻 10.0—1999.9(Ω/□); 
* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰。 
* 采用單個干電池供電,帶電池欠壓指示; 
* 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
 * 帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED); 
* 單電源開關,推拉式探頭-主機接插件,操作其簡便。

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